IEC 62951-6:2019

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples
L’IEC 62951-6:2019 spécifie les termes, ainsi que la méthode et le rapport d’essai de la résistance de couche d’une couche conductrice souple soumise à des essais de courbure et de pliage. Les méthodes de mesurage comprennent la méthode de la sonde 2 points, la méthode de la sonde 4 points et la méthode de Montgomery, qui peuvent être appliquées à un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de résistance de couche anisotrope.
SDO:
IEC
Language:
French
ICS Codes:
31.080.99
Status:
Published
Publish date:
2019-05-05
Standard Number:
IEC 62951-6:2019